Во второй части учебного пособия излагаются вопросы применения рентгеновского структурного анализа к изучению тонкой структуры кристаллических материалов. Рассматриваются диффузное рассеяние лучей на кристаллах с дефектами упаковки, твердых растворах, размытие максимумов за счет малости областей когерентного рассеяния (КР) и искажений решетки. Излагаются методики определения размеров ОКР и микроискажений. Специальные главы посвящены методам точного определения параметров решетки и исследованиям кристаллических текстур.
Дополнительно: При заказе от 1500 р. отправка Почтой России бесплатно.
При заказе от 5000 р. разовая скидка 15% и отправка Почтой России бесплатно.
За пределы РФ книги не высылаю
Встречи по договоренности исключаются.