Флуктуации и шумы определяют чувствительность приемных и измерительных электронных устройств. В наноэлектронике шумами ограничивается минимальный размер элемента, а также плотность записи информации в магнитных записывающих устройствах. По 1/f-шуму удается оценивать качество и прогнозировать надежность интегральных схем и устройств на их основе, не прибегая к долговременным и дорогостоящим испытаниям, причем с такой высокой достоверностью, какую не дают другие известные методы. Все эти вопросы, а также способы описания и физические модели различных шумов (1/f-шума, фликкер-шума и др.), а также методы измерения и снижения шума описаны в данном учебном пособии, написанном на основе курса лекций, прочитанных автором в Московском институте электронной техники. Для студентов старших курсов, магистрантов, аспирантов, а также научных сотрудников и инженеров...
Дополнительно: Уважаемый покупатель! - ПРЕЖДЕ ЧЕМ СДЕЛАТЬ ЗАКАЗ - ОБЯЗАТЕЛЬНО ПРОЧТИТЕ УСЛОВИЯ торговли ПРОДАВЦА. Потом проясните для себя НЕОБХОДИМА ЛИ Вам КНИГА? Если есть ВОПРОСЫ, то их нужно задать ДО ЗАКАЗА. Для этого справа от книги есть функция: "СПРОСИТЬ". Я отвечу оперативно и это избавит НАС С ВАМИ от потери времени и от испорченной статистики, если Вы сделаете Заказ необоснованно. СПАСИБО, ЧТО ПРОЧЛИ ... [подробнее]
)
как новое;
В продаже с 22.06.2022
