Предлагаемая вниманию читателей книга "Методы измерения параметров полупроводниковых приборов" входит в серию "Полупроводниковые материалы и приборы", созданную на основе выпущенного в США в 1958 г. трехтомного издания книги Transistor Technology. В настоящем выпуске помещены материалы, относящиеся к исследованию характеристик и контролю параметров полупроводниковых приборов (диодов, триодов и фотодиодов). Наряду с общими соображениями о целях и методах контроля полупроводниковых приборов на разных стадиях их разработки и производства, рассмотрены методы оценки качества приборов на основании анализа эквивалентных схем и введения соответствующих систем параметров, характеризующих работу приборов, а также подробно описаны методы измерений этих параметров при работе на малых и больших сигналах. В книге приведены описания различных методов измерений и измерительных схем, а также указания об условиях их правильной эксплуатации. В гл. V книги приведены материалы, относящиеся к весьма важной и сравнительно мало изученной проблеме исследования надежности полупроводниковых приборов.
Дополнительно: При заказе от 1500 р. отправка Почтой России бесплатно.
При заказе от 5000 р. разовая скидка 15% и отправка Почтой России бесплатно.
За пределы РФ книги не высылаю
Встречи по договоренности исключаются.
)
хорошее;
В продаже с 09.02.2020
