Методы расчета надежности по постепенным, временным и перемежающимся отказам.
В книге рассматривается методика надежности полупроводниковых радиоустройств летательных аппаратов по постепенным, временным и перемежающимся отказам. Такого рода отказы могут быть вызваны производственными погрешностями, нестабильностью источников питания, изменениями параметров полупроводниковых и схемных элементов в результате воздействия ядерной радиации, температуры, влаги, старении и других дестабилизирующих факторов. Исходя из условий надежности рассматриваются вероятностный, корреляционный и статистический (Монте-Карло) методы расчета допусков бортовых радиоустройств летательных аппаратов. Показаны возможности расчета надежности радиоизделий с учетом воздействия ядерной радиации. Методы расчета иллюстрируются примерами анализа и синтеза надежности конкретных схем аппаратуры. В книге приведены кривые распределения производственных погрешностей параметров полупроводниковых и схемных элементов, полученные на основе большого статистического материала. Дается анализ устойчивости основных статистических показателей распределений и взаимных связей параметров полупроводниковых триодов при изменении режима работы, а также при воздействии температуры, влаги и старения. Впервые дается физическое обоснование законов распределений температурных и суммарных погрешностей параметров радиоизделий.
В продаже
Хочу купить
сейчас этого издания книги в продаже нет
попробуйте поискать другие издания этого произведения при помощи ссылок ниже
или оставьте объявление о покупке или продаже
